Suchergebnisse
6 Treffer für Ihre erweiterte Suche. (Suche verfeinern)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
von:
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag:
Preis:
139,99 €
Format:
EPUB
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
316
DRM-geschütztes eBook, Sie benötigen z.B. Adobe Digital Editions und eine Adobe ID zum Lesen.
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
von:
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag:
Preis:
139,99 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
316
DRM-geschütztes eBook, Sie benötigen z.B. Adobe Digital Editions und eine Adobe ID zum Lesen.
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
von:
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag:
Preis:
139,99 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
256
DRM-geschütztes eBook, Sie benötigen z.B. Adobe Digital Editions und eine Adobe ID zum Lesen.
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
von:
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag:
Preis:
139,99 €
Format:
EPUB
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
256
DRM-geschütztes eBook, Sie benötigen z.B. Adobe Digital Editions und eine Adobe ID zum Lesen.
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
von:
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag:
Preis:
139,99 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
288
DRM-geschütztes eBook, Sie benötigen z.B. Adobe Digital Editions und eine Adobe ID zum Lesen.
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
von:
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag:
Preis:
139,99 €
Format:
EPUB
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
288
DRM-geschütztes eBook, Sie benötigen z.B. Adobe Digital Editions und eine Adobe ID zum Lesen.
